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FISCHER熒光鍍層分析儀X-RAY XDL 220

X-RAY XDL 220 X射線熒光光譜儀,用于對保護和裝飾涂料,量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。

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FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。*多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。X-RAY XDL 220平面樣品平臺,馬達驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀,用于對保護和裝飾涂料,量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。

 XDL 220熒光測厚儀


典型應用領域

?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
?測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?br />

 XDL 220熒光測厚和材料分析儀應用實例

主要特征

?帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦?X射線管。*高工作條件:50KV,50W
?X射線探測器采用比例接收器
?準直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm 到 ? 0.3 mm
?基本濾片:固定或3個自動切換
?測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
?固定樣品支撐臺 ,手動XY工作臺
?攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。刻度線經(jīng)過校準,顯示實際測量點大小。
?設計獲得許可,防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)


技術(shù)參數(shù)
預期用途 能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量組分。
元素范圍
*多同時測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素
設計理念
臺式儀器,測量門向上開啟
X 射線源
帶鈹窗口的鎢管
高壓
三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調(diào)整
孔徑(準直器)
? 0.3 mm (可選:圓形? 0.1 mm; ? 0.2 mm;長方形0.3 mm x 0.05 mm)
測量點

取決于測量距離及使用的準直器大??;實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。zui小的測量點大小約? 0.16mm.

測量距離

如測量室內(nèi)部

0 ~ 80 mm,未校準范圍,使用保護的DCM 功能
0 ~ 20 mm,已校準范圍,使用保護的DCM 功能
X 射線接收器
比例接收器
視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭,用于查看測量位置
放大倍數(shù)
20x ~ 180x (光學變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)
設計 固定式樣品平臺
可用樣品放置區(qū)域
463 x 500 mm
樣品*大重量
20 kg
樣品*大高度
140 mm 
外部尺寸
寬x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650
操作溫度
10°C – 40°C / 50°F – 104°F
儲藏或運輸溫度
 0°C – 50°C / 32°F – 122°F






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