用于金和銀合金快速無(wú)損分析和涂層厚度測(cè)量的X射線熒光測(cè)量?jī)x,帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型,可對(duì)薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測(cè)量
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優(yōu)惠價(jià):0.00
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FISCHERSCOPE X-RAY系列儀器的主要應(yīng)用是金和其他貴金屬合金的涂層厚度測(cè)量和分析,該系列產(chǎn)品以其易用性和優(yōu)越的性價(jià)比而脫穎而出。 過(guò)濾器可以根據(jù)要求進(jìn)行調(diào)整,從而可以為每種材料成分提供理想的測(cè)量?jī)x器。所有FISCHERSCOPE X-RAY系統(tǒng)均具有出色的準(zhǔn)確性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性,大大減少了重新校準(zhǔn)的必要性,從而節(jié)省了時(shí)間和精力。FISCHER的基本參數(shù)方法可對(duì)固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)進(jìn)行分析,而無(wú)需校準(zhǔn)?,F(xiàn)代的硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度和良好的檢測(cè)靈敏度。
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣,可以滿足非常廣泛的應(yīng)用。它在快速精確分析和用戶友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢(shì),如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線路板行業(yè)超薄鍍層分析。XAN 220和XAN 222設(shè)計(jì)為用戶友好的臺(tái)式儀器.XAN 222:手動(dòng)操作XY工作臺(tái),可精確定位小零件和較大的測(cè)量室。為了方便快速地進(jìn)行樣品定位,X射線源和半導(dǎo)體檢測(cè)器組件位于儀器的下腔室中。測(cè)量方向從樣品下面開(kāi)始,并由透明窗口支撐。
主要特性 操作簡(jiǎn)單且性價(jià)比高。 自下而上進(jìn)行測(cè)量,從而快速、簡(jiǎn)便地定位樣品 廣泛適用:為各個(gè)行業(yè)典型需求量身定制了多種型號(hào) 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型,可對(duì)薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測(cè)量。
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應(yīng)用實(shí)例 鍍層厚度測(cè)量: 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層 時(shí)尚首飾:對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析 抗磨損鍍層,如:對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量 測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層(凸點(diǎn)下金屬化層,UBM) 材料分析: 測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度 專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬) 功能性鍍層的成分,如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量 |
預(yù)期用途 |
能量色散X射線測(cè)量?jī)x(ED XRF)用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。 |
元素范圍 |
硫S(16)至鈾U(92)–同時(shí)多達(dá)24種元素 |
重復(fù)性 |
對(duì)于金≤0.5‰,測(cè)量時(shí)間60秒 |
設(shè)計(jì) |
臺(tái)式單元,帶有向上打開(kāi)的罩 |
測(cè)量方向 |
自下而上 |
X射線管 |
帶鈹窗的微焦點(diǎn)鎢管 |
高電壓 |
3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;*大陽(yáng)極電流:1 mA |
光圈(準(zhǔn)直儀) |
? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils) |
測(cè)量點(diǎn) |
? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品(測(cè)量距離0毫米) |
重量 | 約 45 kg (99 lb) |
操作溫度 |
10 °C – 40 °C / 50 °F – 104 °F |
存儲(chǔ)溫度 |
0 °C – 50 °C / 32 °F – 122 °F |
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