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FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀簡介

一一一耐用且價格便宜的X射線熒光測量儀，用于無損涂層厚度測量和材料分析。

FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行準(zhǔn)確分析和測量?？蓽y量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。本款儀器特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個固定的準(zhǔn)直器和濾片，射線管出射點稍大，非常適合測量點在1mm以上的應(yīng)用。低能射線元件激發(fā)效率較低；但是對于標(biāo)準(zhǔn)的測量典型電鍍層厚度的應(yīng)用，如Cr、Ni、Cu，沒有任何問題。

菲希爾熒光鍍層分析儀x-ray設(shè)計理念：

FISCHERSCOPE X-RAY XUL設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應(yīng)不同的樣品平臺：
        XUL： 固定平面平臺
        XUL XYm： 手動X/Y平臺
一高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
一盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
一外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
一通過強大而界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
一XUL型光譜儀是安全而保護全面的測量儀器，型式許可符合德國”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法令要求
   

更多詳細(xì)信息，請參考FISCHERSCOPE® X-RAY XUL參數(shù)或聯(lián)系我們。