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X-RAY XUL 210耐用的入門級X射線熒光測量儀器

FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM是一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。

市場價:

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X射線熒光分析原理:

        X射線熒光分析基于以下物理現(xiàn)象:樣品材料中的原子由于受到初級X射線轟擊,從而失去內(nèi)層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會被外層電子來填補,在填補的過程中,會產(chǎn)生每個元素特有的特征X射線熒光。接收器探測到該熒光射線后,便能提供樣品的材料組成等信息。


X射線熒光法(XRFA)的優(yōu)點:
快速無損的鍍層厚度測量(單層或多鍍層)
分析固態(tài),粉末或液態(tài)樣品
有害物痕量分析
高精度和準確度
十分廣泛的應用
準確測量基材是磁性和導電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全,沒有使用危害環(huán)境的化學制品
無耗品,物超所值

FISCHERSCOPE@X-RAYXUL
--耐用的入門級X射線熒光測量儀器,用于無損材料分析和涂層厚度測量:
        FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM是一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個固定的準直器和濾片,射線管出射點稍大,非常適合測量點在1 mm以上的應用。低能射線元件激發(fā)效率較低;但是對于標準的測量典型電鍍層厚度的應用,如Cr、Ni、Cu,沒有任何問題。對于FISCHERSCOPE@X-RAYXUL和XULM系列來說,X射線源和接收器位于測量室的下方,這樣可以快速方便地定位樣品。除此以外,視頻窗口也可以輔助定位,儀器前方的大控制臺簡化了操作,特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時特別有用。盡管結構緊湊,但這些儀器都有大容量的測量室,這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設計(C型槽)可以測量諸如印刷線路板類大而平整的樣品,即使這些樣品可能無法完全放入測量室。樣品直接放置在平整的支撐臺上,或者定位精度更高的手動XY工作臺上。XUL和XULM都配備了比例接收器;但是它們配備的X射線管,濾片和準直器是不同的。便宜耐用的XUL配備了一個準直器和一個固定的濾片。內(nèi)置的標準X-RAY管產(chǎn)生的基本射線光束較大;因此*小可用的準直器為0.3mm。基于光線的擴散,*小的測量點在0.7 mm- 1mm左右。

應用

鉻鍍層,如:經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
防腐蝕鍍層,如鋼材上的鋅鍍層
印制電路板和柔性電路板上的鍍層
接插件和連接器上的鍍層
電鍍槽液分析



特征

口帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。 *高工作條件:50KV,50W
口X射線探測器采用比例接收器
口準直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
口基本濾片:固定或3個自動切換
口測量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
口固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
口攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。 刻度線經(jīng)過校準, 顯示實際測量點大小。
口設計獲得許可, 防護全面, 符合德國X射線條例第4章第3節(jié)


預期用途 用于材料分析和涂層厚度測量
元素范圍 鈦(22)至鈾(92)* *同時*多24種元素
測量方向
從下往上測量
主過濾器 固定
測量點
根據(jù)測量距離和孔徑,視頻圖像中會顯示實際的測量光斑大小。
*小測量點:XUL 210和XUL 220:約?0.51mm(20mils)
X射線探測器
比例接收器(PC)
測量距離 0 … 25 mm (0 … 1 in)
縮放系數(shù) Digital 1x, 2x, 3x, 4x
供電電源
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
操作溫度 10 °C – 40 °C / 50 °F – 104 °F
存儲/運輸溫度 0 °C – 50 °C / 32 °F – 122 °F
空氣濕度 ≤ 95 %, 無冷凝





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