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FISCHERSCOPE X-RAY250高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,緊湊型且通用的X射線測(cè)量?jī)x器,非常適合無(wú)損涂層厚度測(cè)量和材料分析。

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高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于快速無(wú)損材料分析和涂層厚度測(cè)量。高性能X射線熒光測(cè)量?jī)xX-RAY XAN250,高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x,配有**進(jìn)的硅漂移探測(cè)器(SDD),可快速、無(wú)損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,緊湊型且通用的X射線測(cè)量?jī)x器,非常適合無(wú)損涂層厚度測(cè)量和材料分析。XAN 250和XAN 252儀器特別適合于測(cè)量和分析薄涂層,即使其成分非常復(fù)雜或濃度很小。



X-RAY250高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x


主要特點(diǎn)介紹

    ? 高性能機(jī)型,具有強(qiáng)大的綜合測(cè)量能力
    ? 配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片
    ? 配備高分辨率硅漂移探測(cè)器 (SDD),還適用于更復(fù)雜的多元素分析
    ? 由下至上的測(cè)量方向,可以非常簡(jiǎn)便地實(shí)現(xiàn)樣品定位
    ? 高性能X射線熒光測(cè)量?jī)xX-RAY XAN250


典型應(yīng)用領(lǐng)域

    ? 對(duì)電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測(cè)量
    ? 對(duì)有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量
    ? 在珠寶和手表業(yè),以及在金屬精煉領(lǐng)域,對(duì)合金進(jìn)行高精度的分析
    ? 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域 




FISCHERSCOPE X-RAY250高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x

為了為每一次測(cè)量創(chuàng)造理想的激勵(lì)條件,該儀器的特點(diǎn)是可變孔徑和初級(jí)濾波器?,F(xiàn)代硅漂移探測(cè)器實(shí)現(xiàn)了高精度和良好的檢測(cè)靈敏度。所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點(diǎn)是具有出色的精度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時(shí)間和精力。對(duì)于高精度任務(wù),可隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。為了為每次測(cè)量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件,該儀器的特點(diǎn)是可變孔徑和初級(jí)濾波器?,F(xiàn)代的硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度和良好的檢測(cè)靈敏度.FISCHERSCOPE X-RAY系統(tǒng)具有出色的準(zhǔn)確性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。大大減少了重新校準(zhǔn)的必要性,節(jié)省了時(shí)間和精力。對(duì)于高精度任務(wù),可以隨時(shí)執(zhí)行校準(zhǔn)。FISCHER的基本參數(shù)方法可以分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)而無(wú)需校準(zhǔn)。


規(guī)格參數(shù)
預(yù)期用途
能量色散X射線熒光測(cè)量?jī)x(EDXRF)用于測(cè)量薄涂層,痕量元素和合金
元素范圍
鋁(13)到鈾(92)–同時(shí)*多24個(gè)元素
測(cè)量方向
自下而上
X射線探測(cè)器
硅漂移檢測(cè)器(SDD)
分辨率(fwhm for Mn-Kα)
≤ 160 eV
測(cè)量點(diǎn)
? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品(測(cè)量距離0毫米)
測(cè)量距離
0…25毫米(0…1英寸)
樣品定位
手動(dòng)
縮放系數(shù)
Digital 1x, 2x, 3x, 4x
*大樣品重量
13 kg (29 lb)
電源
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz
外形尺寸
 403 x 588 x 365 mm


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