FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,緊湊型且通用的X射線測(cè)量?jī)x器,非常適合無(wú)損涂層厚度測(cè)量和材料分析。
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高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于快速無(wú)損材料分析和涂層厚度測(cè)量。高性能X射線熒光測(cè)量?jī)xX-RAY XAN250,高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x,配有**進(jìn)的硅漂移探測(cè)器(SDD),可快速、無(wú)損地進(jìn)行RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250和XAN 252是高性能,緊湊型且通用的X射線測(cè)量?jī)x器,非常適合無(wú)損涂層厚度測(cè)量和材料分析。XAN 250和XAN 252儀器特別適合于測(cè)量和分析薄涂層,即使其成分非常復(fù)雜或濃度很小。
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主要特點(diǎn)介紹
? 高性能機(jī)型,具有強(qiáng)大的綜合測(cè)量能力 |
為了為每一次測(cè)量創(chuàng)造理想的激勵(lì)條件,該儀器的特點(diǎn)是可變孔徑和初級(jí)濾波器?,F(xiàn)代硅漂移探測(cè)器實(shí)現(xiàn)了高精度和良好的檢測(cè)靈敏度。所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點(diǎn)是具有出色的精度和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時(shí)間和精力。對(duì)于高精度任務(wù),可隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。為了為每次測(cè)量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件,該儀器的特點(diǎn)是可變孔徑和初級(jí)濾波器?,F(xiàn)代的硅漂移檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)高精度和良好的檢測(cè)靈敏度.FISCHERSCOPE X-RAY系統(tǒng)具有出色的準(zhǔn)確性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。大大減少了重新校準(zhǔn)的必要性,節(jié)省了時(shí)間和精力。對(duì)于高精度任務(wù),可以隨時(shí)執(zhí)行校準(zhǔn)。FISCHER的基本參數(shù)方法可以分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)而無(wú)需校準(zhǔn)。
規(guī)格參數(shù) |
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預(yù)期用途 |
能量色散X射線熒光測(cè)量?jī)x(EDXRF)用于測(cè)量薄涂層,痕量元素和合金 |
元素范圍 |
鋁(13)到鈾(92)–同時(shí)*多24個(gè)元素 |
測(cè)量方向 |
自下而上 |
X射線探測(cè)器 |
硅漂移檢測(cè)器(SDD) |
分辨率(fwhm for Mn-Kα) |
≤ 160 eV |
測(cè)量點(diǎn) |
? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品(測(cè)量距離0毫米) |
測(cè)量距離 |
0…25毫米(0…1英寸) |
樣品定位 |
手動(dòng) |
縮放系數(shù) |
Digital 1x, 2x, 3x, 4x |
*大樣品重量 |
13 kg (29 lb) |
電源 |
AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
外形尺寸 |
403 x 588 x 365 mm |
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