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菲希爾FISCHER XDLM237

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。

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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。此外,XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。


兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,當(dāng)測量門開啟時,XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測量室空間很大,樣品放置方便, 儀器不僅可以測量 平面平整的物體,也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器,測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。


特征:

      。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
      。*高工作條件:50KV,50W
      。X射線探測器采用比例接收器
      。準直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm到00.3 mm
      。基本濾片:固定或3個自動切換
      。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
      。固定樣品支撐臺,手動XY工作臺
      。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
      ??潭染€經(jīng)過校準,顯示實際測量點大小。
      。設(shè)計獲得許可, 防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)


 電鍍液成分分析:Cu, Ni, Au (g/l

電鍍液成分分析:Cu, Ni, Au (g/l)



PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB


典型應(yīng)用領(lǐng)域:

      。大批量電鍍件測量
      。防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
      。電鍍行業(yè)樓液分析
      。線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
      。測量接插件和觸點的鍍層
      。電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
      。黃金,珠寶和手表行業(yè)


應(yīng)用實例:

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如先進或突起,測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。


德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格:

通用規(guī)格

設(shè)計用途

能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu), 分析合金和微量組分。

元素范圍

從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時,zui多可同時測定24種元素

形式設(shè)計

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

從上到下


X射線源

X射線管

帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓

三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

孔徑(準直器)

標準(523-440)

可選(523-366)

可選(524-061)

4個可切換準直器

[mm]: ?0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: ?0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: ?0.1, ?0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制

基本濾片

3種可切換的基本濾片(標準配置:鎳,鋁,無)

測量點

取決于測量距離及使用的準直器大小, 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的* zui小的測量點大小: 光圈約? 0.1 mm(選用準直器0.05x0.05 mm時)



X射線探測

X射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保護的DCM測量距離補償法


視頻系統(tǒng)

視頻系統(tǒng)

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控 十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸) 可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品

放大倍數(shù)

40x - 160x

電氣參數(shù)

電源要求

交流 220 V 50 Hz

功率

zui大 120 W (不包括計算機)

保護等級

IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸

寬x深x高[mm]:570 x 760 x 650

內(nèi)部測量室尺寸

重量

寬x深x高[mm]:460 x 495 x 146

120kg


工作臺

設(shè)計

馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺

zui大移動范圍                    255 × 235 mm

X/Y平臺移動速度                ≤ 80 mm/s

X/Y平臺移動重復(fù)精度            ≤ 0.01 mm, 單向

可用樣品放置區(qū)域                300 × 350 mm

Z軸                            可編程運行

Z軸移動范圍                    140 mm

樣品zui大重量                    5 kg,降低精度可達20kg

樣品zui大高度                    140 mm

環(huán)境要求

使用時溫度

10°C – 40°C

存儲或運輸溫度

0°C – 50°C

空氣相對濕度

≤ 95 %, 無結(jié)露

計算單元

計算機

帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

軟件

標準: WinFTM? V.6 LIGHT 可選: WinFTM? V.6 BASIC,PDM?,SUPER

執(zhí)行標準

CE合格標準

EN 61010

X射線標準

DIN ISO 3497和 ASTM B 568

型式批準

安全而保護全面的測量儀器, 型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)規(guī)定。

訂貨號

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237

604-347





如有特殊要求,可與FISCHER磋商,定制特殊的XDLM型號。





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