FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD具有快速可編程X / Y平臺(tái)和Z軸的X射線熒光測(cè)量?jī)x,可自動(dòng)測(cè)量非常薄的涂層并進(jìn)行痕量分析
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具有快速可編程X / Y平臺(tái)和Z軸的X射線熒光測(cè)量?jī)x,可自動(dòng)測(cè)量非常薄的涂層并進(jìn)行痕量分析
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下,可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率,從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測(cè)下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測(cè)量。由于提高了低能輻射的靈敏度,同時(shí)可測(cè)元素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素,這樣就可以可靠測(cè)量空氣中的磷或鋁。為了使每次測(cè)量都能在*佳激勵(lì)條件下進(jìn)行,XDV-SDD配備了可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片。
XDV-SDD測(cè)量空間寬大,樣品放置便捷,可以放置平整的樣品,也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品。連續(xù)測(cè)試或鍍層厚度和元素分布的測(cè)量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺(tái)完成。操作很人性化,測(cè)量門開(kāi)啟方便,儀器前部控制面板具備多種功能,日常使用輕松便捷。測(cè)量位置的精確設(shè)定可以很方便地通過(guò)高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成,攝像頭可以在操作時(shí)精確顯示測(cè)量位置。激光點(diǎn)作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品的快速定位。良好的性能和通用的設(shè)計(jì)使得XDV-SDD是研發(fā)、過(guò)程控制和實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。同時(shí)基于其健壯設(shè)計(jì)和用戶友好,它也是品質(zhì)保證和生產(chǎn)監(jiān)控*不可少的設(shè)備。
菲希爾X射線熒光測(cè)量?jī)xFISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD |
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典型應(yīng)用領(lǐng)域:
測(cè)量超薄鍍層,例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
應(yīng)用實(shí)例 :法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量,例如電子元件,玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測(cè)是否符合這些限制成為可能。例如,測(cè)量檢出限僅僅幾個(gè)ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等。 |
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特征:
?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
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