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Krautkramer DM4系列測厚儀一般應(yīng)用須知

文/ 發(fā)布于 2021-05-19 瀏覽次數(shù)：2634

使用方便，如正確使用，并熟悉可能影響測量可靠性的因素，則可產(chǎn)生可靠、穩(wěn)定的測量值。本節(jié)解釋一些較通常的考慮。

1.裂縫

如果在測試期間，DM4忽然讀到一個明顯比被測件薄好多的數(shù)值，讀數(shù)可能是至被測件中裂縫的距離，而不是至后壁的距離。較詳細(xì)的內(nèi)容請閱讀1.3節(jié)DM4是如何測試厚度的。如果原因不明顯，建議用超聲波探傷儀或其它合適的無損檢測方法對被測件作進(jìn)一步檢查。

2.表面條件

當(dāng)使用一個雙晶探頭時，被測件表面的規(guī)則形狀(例如機(jī)器的槽)會造成虛假的厚度讀數(shù)。高頻探頭(例如DA312)對這種條件特別敏感。糾正該問題的方法通常是，旋轉(zhuǎn)探頭，使串?dāng)_屏障與槽成直角，或使用雙晶探頭多反射波測量方式。有時被測件的表面太粗糙，影響到正確的測量。會在探頭和被測件表面之間滯留過量的耦合劑，造成錯誤讀數(shù)。非常粗糙的表面還會阻礙相互耦合(耦合指示燈不亮)。糾正該問題的方法可以是，打磨表面，直至光滑、可允許正確耦合為止。

3.彎曲的表面

當(dāng)測量彎曲的表面時(例如管子或管道)，確保探頭的中心放在被測件上，并盡可能保持平穩(wěn)。作為一項(xiàng)規(guī)則，較小直徑的探頭可改善耦合狀況，并減少在彎曲部件上搖擺不定的情況發(fā)生。在某些情況下，可能需要具有與表面曲率相匹配的仿形面的特殊探頭。實(shí)踐有助于提高正確的技術(shù)。

4.高溫被測件的厚度測量

儀器可用于測量表面溫度高達(dá)538℃的材料的厚度，但要使用特殊的高溫雙晶探頭HT400型。高溫應(yīng)用還需要一種特殊耦合劑(GE公司的ZGM)以及采用特殊的忙閑度。建議采用以下步驟。
根據(jù)2.5或2.6節(jié)中適當(dāng)?shù)牟襟E校準(zhǔn) DM4。
使用前將導(dǎo)管內(nèi)ZGM高溫耦合劑攪動。徹底清潔被測件表面。然后將一滴(約豌豆大小)耦合劑放置在探頭接觸面，而不是被測件上。仔細(xì)地將探頭耦合到被測件表面。為了防止損壞探頭面，在與被測件表面接觸期間不要扭轉(zhuǎn)表面。雙晶探頭接觸彎曲表面時，正確放置串?dāng)_屏障,如6.1.3所述。允許2至3秒讓ZGM耦合劑融化，從而提供良好的耦合。溫度大于550℃時，ZGM耦合劑會自動點(diǎn)火，但不影響耦合質(zhì)量。
探頭耦合時間不要大于5秒。如果5秒內(nèi)沒有出現(xiàn)厚度讀數(shù)，移開探頭,讓它在空氣中冷卻。在彎曲的表面，輕柔地?fù)u擺探頭可幫助達(dá)到良好的耦合。
耦合期間，隨著探頭變熱，讀數(shù)會向上漂移。采用MIN(最小值捕捉)方式(2.9節(jié))可幫助減少該問題的影響。
在204℃以下測量時，可采用100%忙閑度。探頭不需要冷卻。如果在204℃以上取厚度讀數(shù)，需按以下要求冷卻探頭︰
溫度204℃至287℃，冷卻15秒。
溫度287℃至538℃，冷卻30至120秒。
取另一個讀數(shù)之前，仔細(xì)地擦去探頭上余留的耦合劑及殘留物。
取另一個讀數(shù)之前，仔細(xì)地擦去探頭上余留的耦合劑及殘留物。
在高溫測得的厚度測量值必須根據(jù)溫度對材料聲速的影響進(jìn)行糾正。聲波在鋼中的速度以每100?-1.0%的比率變化。
有些應(yīng)用可能超出儀器的功能。如果用該步驟嘗試幾次后高溫測量值仍不能令人滿意，則高溫探頭和探傷儀儀器同時使用可達(dá)到較好的效果。

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