PGI 分析表面缺陷、劃痕、磨損、形狀、直線度、表面粗糙度、輪廓、非球面、主要波長(zhǎng)等富有挑戰(zhàn)性的測(cè)量需求。并可用Q-Link (生產(chǎn)管理界面)與SPC軟件相結(jié)合,為生產(chǎn)過(guò)程提供及時(shí)反饋。
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歡迎進(jìn)入篤摯儀器(上海)有限公司儀器商城(www.fjlxcsjz.com),展示產(chǎn)品均為原裝進(jìn)口,附正規(guī)出廠證書(shū),全國(guó)包郵,長(zhǎng)期供應(yīng),貨期電詢!秉承Taylor-Hobson生產(chǎn)先進(jìn)測(cè)量?jī)x器的優(yōu)良傳統(tǒng),超精密PGI系列采用國(guó)際先進(jìn)的測(cè)量技術(shù),應(yīng)用**的相位光柵干涉?zhèn)鞲衅?PGI),以及**的球面校準(zhǔn)程序,確保一次全自動(dòng)操作就能完成尺寸測(cè)量能力和傳感器線性的校準(zhǔn)。
PGI儀器設(shè)置簡(jiǎn)單、易于使用,專為有著苛刻分析要求的高精密應(yīng)用測(cè)量而設(shè)計(jì)。將為您提供高精確度的測(cè)量結(jié)果和完美的可視化分析。汽車(chē)、噴油嘴、光學(xué)零部件、航空航天、大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)、醫(yī)療等領(lǐng)域,PGI 分析表面缺陷、劃痕、磨損、形狀、直線度、表面粗糙度、輪廓、非球面、主要波長(zhǎng)等富有挑戰(zhàn)性的測(cè)量需求。并可用Q-Link (生產(chǎn)管理界面)與SPC軟件相結(jié)合,為生產(chǎn)過(guò)程提供及時(shí)反饋。表面的三個(gè)要素--尺寸、形狀和粗糙度-與零件的功能密不可分。對(duì)于軸承零件更是如此,因此復(fù)雜的工程形狀對(duì)其性能而言非常重要。Form Talysurf PGI儀器可以同時(shí)測(cè)量形狀、尺寸和粗糙度。如此不但保證了可對(duì)每個(gè)要素進(jìn)行應(yīng)有的評(píng)估,還能評(píng)估要素之間的關(guān)聯(lián)以其綜合效果。
表面分析:
? 形狀 |
![]() |
|
輪廓分析
? Gothic arch with helixangle correction |
1.精密基準(zhǔn)導(dǎo)軌
?基準(zhǔn)導(dǎo)軌由工具鋼制成,經(jīng)過(guò)專門(mén)的熱處理,確保其具有很好的穩(wěn)定性?;瑝K和基準(zhǔn)導(dǎo)軌都采用低摩擦軸承,軸承就地加工,以獲得非常好的平面度和垂直度。
2.出色的直線度
?測(cè)試獲得的出色直線度,在Form Talysurf PGI 1230系統(tǒng)中,整個(gè)200mm的驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度內(nèi)僅有30.125μm的直線度誤差。
3.很大程度降低系統(tǒng)噪聲
?要大限度地發(fā)揮其強(qiáng)大測(cè)量分辨率的優(yōu)勢(shì),所有PGI系統(tǒng)都采用創(chuàng)新型機(jī)械設(shè)計(jì)和先進(jìn)的定位控制電子裝置,以有效地降低系統(tǒng)噪聲
基本技術(shù)參數(shù)
系統(tǒng)性能 | 1000 | 1000E | 1000S |
校準(zhǔn)(Pt) | < 0.15μm (6μin) | ||
系統(tǒng)噪聲 | Rq < 2 nm (0.08 μin), Rz < 10 nm (0.39 μin) | ||
半徑測(cè)量不確定度 |
0.1 - 10mm (0.004 -
0.39in) - < 1μm of 標(biāo)稱值
10 - 360mm (0.39 - 14.17in) - 0.01% to 0.006% of 標(biāo)稱值
|
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傾角測(cè)量不確定度 | 0.5 弧分 | ||
Z軸示值重復(fù)性 |
平面 - 0.08 μm (3.1
μin)5
弧面 - 0.08 μm (3.1 μin)6
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水平軸性能 | 1000 | 1000E | 1000S |
驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度 – X *大/*小 | 120 mm / 0.1 mm (4.7 in / 0.004 in) or 200 mm / 0.1 mm (7.9 in / 0.004 in) | ||
驅(qū)動(dòng)速度 | *大速度13 mm/s (0.51 in/s) | ||
測(cè)量速度 | 0.25 mm/s, 0.5 mm/s, 1 mm/s &2 mm/s (0.01 in/s, 0.02 in/s, 0.04 in/s & 0.08 in/s) | ||
X軸方向*小數(shù)據(jù)取樣間隔 | 0.125 μm (5 μin) | ||
直線度精確度(Pt) | 120 m驅(qū)動(dòng)單元 - 0.08 μm (3.2 μin) / 200 mm驅(qū)動(dòng)單元 - 0.110 μm (4.3 μin) | ||
X軸示值精度 | (1 + 0.02 L) μm | ||
垂直軸性能 | 1000 | 1000E | 1000S |
標(biāo)稱測(cè)量量程 (Z) | 10 mm (0.39 in) | ||
分辨率(Z) | 5.3 nm (0.21 μin) | 1.3 nm (0.05 μin) | 0.3 nm (0.01 μin) |
量程與分辨率的比 | 3,773,585 : 1 | 7,692,307 : 1 | 33,333,333 : 1 |
線性精度 | 0.07 + 0.03 Z [mm] μm (3 + 30 Z[in] μin) | ||
測(cè)針臂長(zhǎng)度 | 標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度 100mm | ||
針尖尺寸 | 2μm半徑錐形金剛石測(cè)針 | ||
測(cè)力 | < 1mN 測(cè)力 | ||
測(cè)量站 | 1000 | 1000E | 1000S |
驅(qū)動(dòng)單元的機(jī)動(dòng)傾斜 | 可選傾斜±9° from horizontal | ||
儀器尺寸 | 參見(jiàn)儀器平面圖 | ||
儀器重量 | 223 Kg (450 mm立柱) (可選700 mm立柱 237 Kg) | ||
機(jī)動(dòng)垂直立柱 | 450 mm (17.7 in) (可選 700 mm (29.5 in)) |
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