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泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP(非接觸式光學(xué)輪廓儀)

CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設(shè)計(jì)融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測(cè)量的檢驗(yàn)工具。

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無論對(duì)分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測(cè)量結(jié)果。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測(cè)量非常粗糙的表面,還是測(cè)量非常光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的專業(yè)知識(shí)保持與時(shí)俱進(jìn),能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測(cè)量要求。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設(shè)計(jì)融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測(cè)量的檢驗(yàn)工具。 CCI特別的薄膜厚度測(cè)量功能,進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計(jì)的出色計(jì)量包裝 。

?    2048 x 2048像素陣列,視場(chǎng)廣,高分辨率
?    全量程0.1埃的分辨率
?    輕松測(cè)量反射率為0.3% - 100%的各種表面
?    RMS重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
?    多語言版本的64位控制和分析軟件



單一測(cè)量模式,新一代白光干涉儀


泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP(非接觸式光學(xué)輪廓儀)

先進(jìn)的光學(xué)干涉測(cè)量技術(shù)

 ?     非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制,2.2毫米掃描范圍
 ?     改進(jìn)后的拼接功能,使Z軸量程可達(dá)100毫米
 ?     1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場(chǎng)
 ?     增強(qiáng)了角度靈敏度,能夠得到更好的測(cè)量數(shù)據(jù)

從實(shí)質(zhì)上消除測(cè)量的不確定性

 ?     RMS重復(fù)性小于0.2埃,臺(tái)階高度重復(fù)性小于0.1%
 ?     整個(gè)測(cè)量量程有著0.1埃分辨率
 ?     FEA優(yōu)化機(jī)械設(shè)計(jì),具備出色的R&R能力
 ?     采用ISO標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn),確保結(jié)果的可信度



追求長期成本效益的堅(jiān)固耐用設(shè)計(jì)

 ?     非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費(fèi)用
 ?     自動(dòng)表面檢測(cè)可防止撞壞鏡頭
 ?     內(nèi)置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
 ?     操作的簡便性可減少使用者出錯(cuò)可能

64位控制和分析軟件

 ?     包括中文、日文在內(nèi)的多語種支持
 ?     兼容大多數(shù)計(jì)算機(jī)平臺(tái),有利于開展合作性研究項(xiàng)目
 ?     提供多種新工具,包括3D表面隨時(shí)間演變過程中進(jìn)行4D分析
 ?     根據(jù)多批次測(cè)量數(shù)據(jù)自動(dòng)生成報(bào)告



泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP(非接觸式光學(xué)輪廓儀)

1.  大量程、高分辨率、高準(zhǔn)確性和高可靠性–取得成功的四大要素

        無論哪種零件、無論多快的分析速度,CCI MP均可保證三維面形測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭,可對(duì)非常粗糙到非常光滑的所有表面進(jìn)行細(xì)致全面的分析。功能豐富–可隨時(shí)用于生產(chǎn)運(yùn)營或研究項(xiàng)目時(shí)刻與研發(fā)人員和科學(xué)家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展,CCI       MP能夠滿足包括太陽能、光學(xué)和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的苛刻的測(cè)量要求。高級(jí)數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測(cè)量范圍。

2.  使用的簡便性可減少操作員的培訓(xùn)成本

        即便不常使用,也無需對(duì)操作員重新進(jìn)行培訓(xùn)和指導(dǎo)。CCI    MP的設(shè)計(jì)便于科學(xué)家、學(xué)生、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動(dòng)量程和自動(dòng)條紋尋找等,可以簡化樣品的調(diào)整過程。為用戶節(jié)省時(shí)間、減少錯(cuò)誤并快速得出所需結(jié)果。

3.  完整的平臺(tái)簡化ISO-17025的集成

         不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到很大提高。也不需要測(cè)量模式間進(jìn)行復(fù)雜的切換,以及測(cè)量過程中校準(zhǔn)鏡頭,就可以測(cè)量多種多樣零件和表面。標(biāo)準(zhǔn)化的模式、程序和報(bào)告功能,使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng)。


CCI MP結(jié)構(gòu)緊湊的高新能白光干涉儀

泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP(非接觸式光學(xué)輪廓儀)


無限的應(yīng)用可能性

        許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器完全無法處理的測(cè)量問題。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡便的優(yōu)勢(shì),成為在眾多應(yīng)用場(chǎng)合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。

?    材料研究
?    軸承粗糙度
?    拋光光學(xué)器件
?    織紋鋼
?    金剛石車削
?    汽車噴油器.
?    表面結(jié)構(gòu)



?    醫(yī)療植入物
?    密封面
?    曲軸加工
?    儲(chǔ)油率(軸承)
?    紙/碳粉
?    手機(jī)專用耳機(jī)
?    牙齒磨損



?    SIMS凹面
?    晶圓粗糙度
?    晶圓蝕刻深度
?    太陽能電池
?    LED
?    MEMS
?    數(shù)據(jù)存儲(chǔ)



泰勒霍普森白光干涉儀CCIMP(非接觸式光學(xué)輪廓儀)



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