CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設(shè)計融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。
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無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量非常光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業(yè)知識保持與時俱進,能滿足光學領(lǐng)域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設(shè)計融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI特別的薄膜厚度測量功能,進一步完善了為光學工業(yè)而設(shè)計的出色計量包裝 。
? 2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
? 全量程0.1埃的分辨率
? 輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
? RMS重復(fù)精度<0.2埃,階躍高度重復(fù)精度<0.1%
? 多語言版本的64位控制和分析軟件
單一測量模式,新一代白光干涉儀
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先進的光學干涉測量技術(shù)
? 非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸掃描控制,2.2毫米掃描范圍 從實質(zhì)上消除測量的不確定性
? RMS重復(fù)性小于0.2埃,臺階高度重復(fù)性小于0.1% |
追求長期成本效益的堅固耐用設(shè)計
? 非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用 64位控制和分析軟件
? 包括中文、日文在內(nèi)的多語種支持
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1. 大量程、高分辨率、高準確性和高可靠性–取得成功的四大要素
無論哪種零件、無論多快的分析速度,CCI MP均可保證三維面形測量結(jié)果的準確性。配備1/10埃垂直分辨率的一百萬像素高性能攝像頭,可對非常粗糙到非常光滑的所有表面進行細致全面的分析。功能豐富–可隨時用于生產(chǎn)運營或研究項目時刻與研發(fā)人員和科學家的專業(yè)技術(shù)同步發(fā)展,CCI MP能夠滿足包括太陽能、光學和醫(yī)療器械等領(lǐng)域提出的苛刻的測量要求。高級數(shù)據(jù)拼接功能拓展了儀器的可測量范圍。
即便不常使用,也無需對操作員重新進行培訓和指導。CCI MP的設(shè)計便于科學家、學生、開發(fā)人員或生產(chǎn)檢查人員使用。CCI MP的創(chuàng)新功能如自動量程和自動條紋尋找等,可以簡化樣品的調(diào)整過程。為用戶節(jié)省時間、減少錯誤并快速得出所需結(jié)果。
不需要增加程序的復(fù)雜性就可使用戶的分析能力得到很大提高。也不需要測量模式間進行復(fù)雜的切換,以及測量過程中校準鏡頭,就可以測量多種多樣零件和表面。標準化的模式、程序和報告功能,使CCI MP可輕松集成到用戶的質(zhì)量管理系統(tǒng)。
CCI MP結(jié)構(gòu)緊湊的高新能白光干涉儀
無限的應(yīng)用可能性
許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器完全無法處理的測量問題。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡便的優(yōu)勢,成為在眾多應(yīng)用場合中研發(fā)和質(zhì)量保證的理想工具。
? 材料研究 |
? 醫(yī)療植入物 |
? SIMS凹面 |
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