PGI儀器設(shè)置簡(jiǎn)單、易于使用,專(zhuān)為有著苛刻分析要求的高精密應(yīng)用測(cè)量而設(shè)計(jì)。將為您提供高精確度的測(cè)量結(jié)果和完美的可視化分析。汽車(chē)、噴油嘴、光學(xué)零部件、航空航天、大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)、醫(yī)療等領(lǐng)域
市場(chǎng)價(jià):
優(yōu)惠價(jià):0.00
聯(lián)系人:朱盛
聯(lián)系電話:021-58951071
手機(jī)號(hào):15921165535
Talysurf PGI系列設(shè)置簡(jiǎn)單,易于使用,專(zhuān)為分析高精密應(yīng)用而設(shè)計(jì):
為了滿足現(xiàn)代眾多應(yīng)用需求,許多部件都需要具備高質(zhì)量、高耐用性、高精度和可信賴性。Taylor Hobson對(duì)半徑、形狀、輪廓和主波長(zhǎng)等能夠進(jìn)行深入分析,為設(shè)計(jì)和生產(chǎn)提供重要的反饋。秉承Taylor-Hobson生產(chǎn)**端測(cè)量?jī)x器的優(yōu)良傳統(tǒng),精密PGI系列采用國(guó)際*先進(jìn)的測(cè)量技術(shù),應(yīng)用**的相位光柵干涉?zhèn)鞲衅?PGI) ,以及**的球面校準(zhǔn)程序,確保一次全自動(dòng)操作就能完成尺寸測(cè)量能力和傳感器線性的校準(zhǔn)。
PGI儀器設(shè)置簡(jiǎn)單、易于使用,專(zhuān)為有著苛刻分析要求的高精密應(yīng)用測(cè)量而設(shè)計(jì)。將為您提供高精確度的測(cè)量結(jié)果和完美的可視化分析。汽車(chē)、噴油嘴、光學(xué)零部件、航空航天、大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)、醫(yī)療等領(lǐng)域,PGI分析表面缺陷、劃痕、磨損、形狀、直線度、表面粗糙度、輪廓、非球面、主要波長(zhǎng)等富有挑戰(zhàn)性的測(cè)量需求。并可用Q-Link(生產(chǎn)管理界面),與SPC軟件相結(jié)合,為生產(chǎn)過(guò)程提供及時(shí)反饋。
專(zhuān)為您的應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)
- 滿足下一代日益增長(zhǎng)的科技需求
醫(yī)療:深入分析醫(yī)療植入物的特性,例如磨損,可為植入物的設(shè)計(jì)提供至關(guān)重要的反饋。
汽車(chē)行業(yè):表面缺陷和劃痕分析,把控生產(chǎn)過(guò)程。
噴油器:形狀、直線度和表面粗糙度分析,把控生產(chǎn)過(guò)程。
航空航天:TalysurfPGI系列儀器可使用Q-Link (生產(chǎn)管理界面) ,適用于數(shù)據(jù)和嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)的操作程序的控制。
研發(fā):滿足大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)中對(duì)富有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用和廣泛測(cè)量需求
TAYLOR-PGI2000/2000E/2000S技術(shù)參數(shù):
一、系統(tǒng)性能:
形狀校準(zhǔn)誤差(Pt):<0.20μm
(8 μin) ;
系統(tǒng)噪音:Rq <
2 nm (0.08 μin), Rz < 10 nm (0.39 μin) ;
半徑測(cè)量不確定度:0.1
- 10mm (0.004 - 0.39in) -標(biāo)稱值<
1μm;10 -
360mm (0.39 - 14.17in) - 標(biāo)稱值的0.01%
至0.006%
斜坡測(cè)量不確定度:0.5
角分;
Z軸傾斜重復(fù)性:平面表面-
0.08 μm (3.1 μin);曲面表面-
0.08 μm (3.1 μin);
二、水平性能:
驅(qū)動(dòng)長(zhǎng)度– X最大/最小:120 mm
/ 0.1 mm (4.7 in / 0.004 in) 或200
mm / 0.1 mm (7.9 in / 0.004 in) ;
驅(qū)動(dòng)速度:最大
13 mm/s (0.51 in/s);
測(cè)量速度:0.25
mm/s, 0.5 mm/s, 1 mm/s & 2 mm/s (0.01 in/s, 0.02 in/s, 0.04 in/s & 0.08
in/s) ;
X軸最小采樣間距:0.125
μm (5 μin) ;
直線度精度(Pt):120 mm 驅(qū)動(dòng)箱- 0.08
μm (3.2 μin) / 200 mm 驅(qū)動(dòng)箱-
0.110 μm (4.3 μin) ;
X軸傾斜精度:(1
+ 0.02 L) μm ;
三、垂直性能:
標(biāo)稱測(cè)量量程(Z):20 mm
(0.79 in) ;
分辨率(Z):PGI2000/5.3nm
(0.21μin);PGI2000E/1.3nm
(0.05μin);PGI2000S/0.3nm
(0.01μin);
量程與分辨率的比率:PGI2000/3773585:1;PGI2000E/15384615:1;PGI2000S/66666666:1;
直線度精度:0.07+0.03Z[mm]μm;(3+30Z[in]μin);
測(cè)針臂長(zhǎng)度:標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度100mm;
針尖大小:2μm半徑錐球形金剛石測(cè)針;
測(cè)針針尖壓力:<1mN;
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