Talysurf CCI Lite是基于世界*先相關(guān)相干計(jì)算法的新一代光學(xué)干涉儀,優(yōu)越的光學(xué)測(cè)量結(jié)果同時(shí)適應(yīng)精密工業(yè)測(cè)量與研究部門。
市場(chǎng)價(jià):
優(yōu)惠價(jià):0.00
聯(lián)系人:朱盛
聯(lián)系電話:021-58951071
手機(jī)號(hào):15921165535
Taylor Hobson是一個(gè)全球性的著名精密儀器制造商,泰勒的儀器以納米級(jí)的檢測(cè)及高精度著名。Talysurf CCI Lite是基于世界*先相關(guān)相干計(jì)算法的新一代光學(xué)干涉儀,優(yōu)越的光學(xué)測(cè)量結(jié)果同時(shí)適應(yīng)精密工業(yè)測(cè)量與研究部門。The Talysurf CCI Lite 是一臺(tái)先進(jìn)的光學(xué)干涉 儀,它采用了創(chuàng)新的,**的相關(guān)相干算法, 去尋找通過(guò)光學(xué)掃描得到的干涉圖象中的一致 點(diǎn)與相位The Talysurf CCI Lite 對(duì)于高精度的3D測(cè)量 而言是無(wú)價(jià)的,通過(guò)采用不同的物鏡頭,可 以檢測(cè)不同的表面,全自動(dòng)的工作臺(tái)能適應(yīng) 高水平的靈活應(yīng)用。
? 強(qiáng)大而 穩(wěn)定的Z軸掃描
? 快速自動(dòng)XY平臺(tái)與Z軸聚焦
? 靈活的Z軸范圍-2.2mmZ軸范圍(縫補(bǔ)功能> 10mm)
? 精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)-標(biāo)準(zhǔn)配置超過(guò)百萬(wàn)的采集數(shù)據(jù)
? 簡(jiǎn)單-對(duì)所有表面都只需要一種測(cè)量模式
Talysurf CCI Lite的好處還在于它的多功能 性,無(wú)論是拋光,粗糙的,曲面的,平面的 或者臺(tái)階表面,只要反射率在0.3%到100% 之間,都可以在同意模式里測(cè)量,而不用擔(dān) 心功能性的錯(cuò)誤。各種材料類型都可以被測(cè)量,如玻璃,液體, 照片,金屬,復(fù)合材料及粘膜。
表面能夠使用國(guó)際通用的數(shù)據(jù),被量化地分 析三維與二維的表面數(shù)據(jù),區(qū)域與容積數(shù)據(jù)
? 120種E二維參數(shù),40種三維參數(shù)
? 計(jì)數(shù)與分類
? 自動(dòng)臺(tái)階高度測(cè)量
標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)控制,可編程的XYZ平臺(tái)及自動(dòng) 聚焦,能夠非常容易地測(cè)量單一表面或復(fù)雜 形狀。XYZ縫補(bǔ)功能更滿足了形狀陡峭的表 面與大面積測(cè)量的需要
挑選合適的物鏡 對(duì)CCI系統(tǒng)而言,合適的物鏡是非常必要的,鏡頭的選擇取決于我們的應(yīng)用,關(guān)鍵的參數(shù)為:
? 視野范圍,確定測(cè)量的區(qū)域
? 光學(xué)分辨率,它能夠區(qū)分出很小的特征。
? 傾斜度,她顯示出怎樣的曲面能夠被測(cè)量,特別是很粗糙的表面 所有的物鏡都有專用的儲(chǔ)存盒以避免被損壞。
測(cè)量方法 | 相關(guān)相干算法 |
Z軸測(cè)量范圍 | 2.2 mm as standard (>10mm with Z stitchiing) |
Z軸分辨率[max] | 0.01 nm [0.1 ?] |
噪音Noise floor (Z) | <0.08 nm [0.8 ?] 1 |
RMS重復(fù)性精度 | <0.02 nm [0.2 ?] 2 |
測(cè)量面積(X, Y) | 6.6 mm (>75mm with XY stitching) |
測(cè)量數(shù)據(jù)點(diǎn)(X, Y) | 1024 x 1024 standard |
XY分辨率 | 0.4 - 0.6μm (surface dependent) |
臺(tái)階高度重復(fù)性 | < 0.1% |
表面反射率 | 0.3% - 100% |
測(cè)量時(shí)間 | 5-40 seconds (typical |
作為高精度的儀器制造商,泰勒霍普森提供了非常好的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn) 高標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)塊都由我們的UKAS實(shí)驗(yàn)室提供證書。臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)塊用于標(biāo)定垂直方向的精度。通過(guò)執(zhí)行自動(dòng)的標(biāo)定程序,通過(guò)標(biāo)定將使您的測(cè)量結(jié)果可以溯源到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。側(cè)向標(biāo)定被用于儀器的放大倍率。它能同時(shí)校正視場(chǎng)與像素,通過(guò)采用同心圓的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)保證1像素的精確性。泰勒霍普森公司提供了高0。2nmRMS的二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)塊來(lái)進(jìn)行標(biāo)定,通過(guò)標(biāo)定能夠檢測(cè)到低于0.04nm的表面。
5 μm臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)塊 |
側(cè)向標(biāo)準(zhǔn)塊 |
平面度標(biāo)準(zhǔn)塊 0.2 nm RMS |
Talymap表面分析軟件百?gòu)V泛地使用到研究部門與工業(yè)產(chǎn)品研究系統(tǒng)中,這套先進(jìn)的分析軟件已經(jīng)被應(yīng)用到包括研磨,軍工,汽車,軸承,化妝品,切削工具,金屬,電子,醫(yī)藥,MEMS,模具,紙張,印刷電路及半導(dǎo)體行業(yè)中。Talymap由一群專業(yè)的軟件,計(jì)量工程師進(jìn)行開(kāi)發(fā)來(lái)滿足當(dāng)前和未來(lái)在表面計(jì)量上的應(yīng)用。軟件隨著新的標(biāo)準(zhǔn)與方法不停地進(jìn)行更新。
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