Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理,可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸,并計算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲器件,半導(dǎo)體器件,光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。
市場價:
優(yōu)惠價:0.00
Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理,可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸,并計算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲器件,半導(dǎo)體器件,光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。CCI2000 采用了先進(jìn)的白光干涉技術(shù)。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法,通過建立模板,能夠計算出帶光源相干峰與相位的位置。無論是拋光表面還是粗糙表面,只要反射率超過 0.5%,就能夠被檢測。在非接觸表面三維測量中,CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。
![]() |
關(guān)鍵特性:
1.0?垂直分辨率 |
|
高精度、低噪音、百萬數(shù)據(jù)點、數(shù)字技術(shù),泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世,宣告著微 觀世界表面三維形貌時代到來。對于光學(xué)、半導(dǎo)體、微納米機(jī)械、汽車、醫(yī)藥、軸承等工業(yè) 而言,如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌、表面粗糙度、臺階高度、微觀 三維尺寸,CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度、納米級的分辨率、非接觸測量、三維形貌顯示, 是您理想的選擇。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計量的理想方法來進(jìn)行粗糙度,臺階高度或微觀尺寸測量時,泰勒·霍普森(Taylor Hobson)都能提供您期望的結(jié)果。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率,可為光學(xué),MEMS,半導(dǎo)體,汽車,醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測量。
數(shù)據(jù)分析工具
。 以新國際參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示。 可溯源的結(jié)果
。 我們采用可以溯源的國際樣塊,對側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定。 |
![]() |
篤摯儀器(上海)有限公司專業(yè)代理英國泰勒粗糙度儀、輪廓儀、粗糙度輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等精密測量儀器。英國泰勒霍普森Taylor Hobson隸屬于美國阿美特克AMETEK集團(tuán),是不斷創(chuàng)新的精密計量領(lǐng)域的世界**者,杰出的聲譽(yù)源自100多年的計量設(shè)計和精密制造工程經(jīng)驗。代表著表面粗糙度及形狀計量學(xué)領(lǐng)域的高精度等級的計量水平,并為眾多應(yīng)用領(lǐng)域提供接觸和非接觸測量解決方案。英國泰勒擁有大量以尖端發(fā)明**為代表的知識產(chǎn)權(quán),同時仍保有大規(guī)模的研發(fā)團(tuán)隊和高額資金投入。并且不斷將科研成果應(yīng)用于新產(chǎn)品的開發(fā)和改進(jìn),使其更加完善地服務(wù)于用戶。
友情鏈接:化工儀器網(wǎng)|谷瀑環(huán)保網(wǎng)|篤摯儀器網(wǎng)|上海篤摯儀器|篤摯儀器(上海)有限公司
其他鏈接:關(guān)于篤摯|企業(yè)文化|資質(zhì)|聯(lián)系我們|招賢納士|企業(yè)風(fēng)采
滬ICP備16027846號-8 ©2024 篤摯儀器(上海)有限公司