文/ 發(fā)布于 2020-04-13 瀏覽次數(shù):3268
在過去的 20 年里,熱成像技術幾乎在每個行業(yè)的維護、故障排查、質量控制以及研
發(fā)領域都掀起了一場變革。細節(jié)查看和性能的巨大提升加上成本的降低以及界面的簡
化,讓熱像儀在越來越多的應用領域成為了常見的日常工具選擇。熱像儀能夠以放射
測定的方式提供詳細信息,即紅外圖像內各個測量點的溫度數(shù)據,而無需接觸被測物
體。因此,對于使用接觸式測量可能導致?lián)p壞或污染,或者由于體積過小而無法通過
接觸式工具進行測量的檢測目標而言,熱像儀是一款理想的測量工具。 |
福祿克微距 紅外鏡頭的 |
圖 1. 金屬涂層不均勻 表明加工工藝不良。 相信您不會愿意使用 這塊電路板 |
微距視圖在整個產品壽命中所具有的價值福祿克的這款 25 微米微距紅外鏡頭在檢查小型被測器件時聚焦極為精確,它在以下幾種分析應用中具有巨大的價值:材料完好性/質量25 微米的微距紅外鏡頭所顯示的熱圖像能夠顯現(xiàn)接點分離、晶格失配或其它不均勻性狀況。若有多個樣品均出現(xiàn)熱成像異常,就可以表明存在加工缺陷。例如,圖 1 所示的電路板就存在金屬化不良問題。由于金屬化工藝不良,接頭焊盤不是呈矩形,而留下了易于導致故障的金屬珠。
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材料性能參數(shù)所有材料和元器件對工作溫度范圍和濕度等參數(shù)都有要求。熱圖像可以顯現(xiàn)某一器件或材料在這些規(guī)定的條件下能否按預期的那樣工作。這種細微至 25 微米的細節(jié)熱差異分析能力能夠幫助您發(fā)現(xiàn)近微觀元器件內存在的潛在故障。材料的生命周期與可靠性采用微距鏡頭在較長的測試期內采集材料的熱圖像能夠幫助研發(fā)工程師確定元器件的預期壽命,發(fā)現(xiàn)可能導致過早失效的問題區(qū)域。 |
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圖 4. 這是使用 TiX560 熱像儀搭配 標準鏡頭拍攝到的 火柴剛剛熄滅后的 圖像。 |
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圖 5. 這是使用 Fluke TiX560 熱像儀搭配 25 微米微距紅外鏡頭 拍攝到的火柴熄滅后 的圖像 |
輻射分析。福祿紅外熱像儀具有很高的熱靈敏度和前所*有的空間分辨率,可以提供大多數(shù)市售產品之前無法提供的更全面更準確的輻射分析功能。
溫度測量對于預期壽命的計算至關重要。這些電阻器的熱圖像提供的細節(jié)足以顯示熱點,借助通過熱圖像獲得的信息,工程師將能夠更改設計或加工工藝,以緩解那些形成熱點的應力點。
使用福祿克 TiX560 熱像儀和標準鏡頭、2 倍鏡頭和 4 倍鏡頭 對變電站進行的掃描。由于在距離開關較短的距離內存在高電阻, 過熱可能會造成故障。在定期檢查中發(fā)現(xiàn)這一問題 可以避免給電力公司及其客戶造成重大停電事故。
福祿克微距 紅外鏡頭的 三大應用 :1. 以接近微觀的細節(jié)查看發(fā) 現(xiàn)故障 2. 精確地找出加工異常 3. 測試產品的可靠性和服務 壽命
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