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FISCHERSCOPE X-RAY XDL膜厚儀

X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)，使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

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?丨XDL 系列熒光測厚儀介紹

憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL 系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇*適合的 X 射線儀器。比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設(shè)計(jì)為用戶友好的臺式機(jī)，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求.

        配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當(dāng)測量門開啟時(shí)，XY工作臺自動移動到加載位置，同時(shí)激光點(diǎn)指示測量點(diǎn)位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口(C形槽).由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm  .  Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0- 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

型號包括：

      ? FISCHERSCOPE  X-RAY XDL210熒光鍍層測厚儀
      ? FISCHERSCOPE X-RAY XDL220 x射線熒光鍍層測厚儀
      ? FISCHERSCOPE  X-RAY XDL230 熒光鍍層測厚與材料分析儀
      ? FISCHERSCOPE  X-RAY XDL240 x射線熒光鍍層測厚與材料分析儀


FISCHERSCOPE X-RAY XDL膜厚儀



特性：

      。 X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)
      。 由于測量距離可以調(diào)節(jié)（*大可達(dá) 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
      。 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動化的批量測試
      。 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

應(yīng)用：鍍層厚度測量

      。 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
      。 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
      。 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
      。 鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
      。 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量

 材料分析

      。 電鍍槽液分析
      。 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析



 



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