涂鍍層測厚儀DUALSCOPE MP0—在鐵磁性及非鐵磁性金屬上簡便、高精度測量涂鍍層厚度的理想選擇
市場價:0~5000
優(yōu)惠價:0.00
DUALSCOPE MP0采用廣受認可的Fischer探頭技術(shù)是非常小巧并能很大程度滿足您測量需要的儀器。它測量精度高界面友好且結(jié)實耐用。對不復(fù)雜工件的現(xiàn)場測量尤為理想。內(nèi)置探頭采用磁感應(yīng)及電渦流方法可快速無損地測量涂鍍層厚度。DUALSCOPE MP0自動識別基材例如鐵或鋁并選擇適合的測量方法,可顯示重要的統(tǒng)計參數(shù)。由于有著出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標準的校準功能,使得這款儀器在同級別產(chǎn)品中有著很高的評價。
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在使用時具有以下特性
? 可在所有的金屬(鋼鐵或非鐵磁性金屬)基材上測量
日常使用的理想選擇:
? 無需校準即可測量。在被測件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生大的改變時, |
菲希爾MPO涂層測厚儀為德國生產(chǎn),集合了磁性測厚儀(P-MP0D)和渦流測厚儀(I-MP0D)兩種儀器的功能,是D-MP0D型儀器的改進型產(chǎn)品??捎糜跍y量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如:
1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。
3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
實際應(yīng)用舉例
? 鐵上電鍍鋅,鉻,銅等鍍層
測量鋁上陽極氧化膜的厚度 |
測量鐵上油漆的厚度
測量鐵上鍍鋅層的厚度 |
是否需要有關(guān)此產(chǎn)品的幫助?
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菲希爾MPO涂層測厚儀主要技術(shù)規(guī)格 |
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應(yīng)用 |
鋼鐵基材(Fe) |
非鐵磁性基材(NFe) |
測量應(yīng)用 |
鋼、鐵或鑄鐵(FE)上的鋅、鉻、銅、油漆、清漆和塑料涂層 |
?鋁、銅或黃銅上的油漆、清漆或塑料涂層
?鋁陽極氧化涂層
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測量范圍 |
0 ... 2000 μm (78 mils) |
0 ... 2000 μm (78 mils) |
測量誤差 |
0 ... 75 μm: ≤ 1.5 μm 75 ... 1000 μm ≤ 2 % 1000 ... 2000 μm: ≤ 3 % |
0 ... 50 μm: ≤ 1 μm 50 ... 1000 μm ≤ 2 % 1000 ... 2000 μm: ≤ 3 % |
重復(fù)精度 |
0 ... 50 μm: ≤ 0.25 μm 50 ... 2000 μm: ≤ 0.5 % of reading |
0 ... 100 μm: ≤ 0.5 μm 100 ... 2000 μm: ≤ 0.5 % of reading |
統(tǒng)計 |
顯示每個區(qū)塊的平均值、標準偏差、*小值、*大值和測量次數(shù)。 |
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測量方法 |
磁感應(yīng)法(ISO 2178,ASTM D7091,磁性基體上非磁性涂層的測量);
渦流法(ISO 2360,ASTM D7091,非磁性基體金屬上非導(dǎo)電涂層的測量); 與基體材料相對應(yīng)的測量方法的自動選擇 |
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探頭 |
探頭針尖半徑:2 mm(78 mils);探頭針尖材料:碳化物 |
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數(shù)據(jù)存儲 |
可儲存1000個讀數(shù);即使沒有電池,存儲器內(nèi)容也會保留 |
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測量頻率 |
每分鐘測量70次以上 |
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顯示 |
兩個背光LCD顯示屏,可方便地在儀器的任何位置,甚至是頂部,看到讀數(shù) |
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操作溫度 |
0 .... +40 °C (32 ... +104 °F) |
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重量(包括電池) |
137 g (4.8 oz) |
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尺寸 |
Width: 64 mm (2.5 “); depth: 28 mm (1.1 “); height: 85 mm (3.35 “) | |
標準配置 |
訂貨號 |
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主機含操作手冊 |
604-329 |
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2節(jié)1.5V電池 * |
603-534 |
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校準用鐵基材* |
603-477 |
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校準用鋁基材* |
603-488 |
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校準標準75μm左右* |
603-479 |
儀器校準操作說明:
按下,屏幕“校正”位置相對應(yīng)的按鈕。請注意需要使用未鍍過的底材,而且底材的形狀和材質(zhì)必須和被測量的工件一致。
A、正?;▋x器歸零)→ 按 OK 鍵進入→ 按屏幕提示測量底材(基材)3-5 次→按 OK 鍵確認→屏幕顯示“正常完成成功”,再次按 OK 鍵完成。
B、校正→按屏幕提示測量底材(基材)3-5 次,不建議按屏幕中的“跳過”鍵跳過→按 OK 鍵確認→把標準片放在前面的基材上,測量標準片 3-5 次→按“設(shè)置”鍵→進入設(shè)置界面后按↑↓鍵調(diào)整數(shù)值直到和標準片相同→按“OK”鍵確定→以上步驟確認無誤后再按“OK”鍵至第二片標準片→校正步驟同第一片→按“OK”確認。(儀器只附帶一片標準片,第二片時可以直接跳過;如客戶有多塊標準片,校正時請按從薄到厚的順序進行校正。
C、簡易校準→在基材上測量 200um 以上的標準片 3-5 次左右,并設(shè)置相應(yīng)數(shù)值→按“ OK”鍵完成。(此功能只適合200um以上的涂鍍層使用)
D、刪除校正
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