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德國(guó)FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列測(cè)厚儀

無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是精確材料成分分析,F(xiàn)ISCHER眾多系列的X-ray熒光光譜儀可以為任何應(yīng)用提供理想儀器選擇

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?丨FISCHER X-ray熒光光譜儀介紹:

無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是精確材料成分分析,F(xiàn)ISCHER眾多系列的X-ray熒光光譜儀可以為任何應(yīng)用提供理想儀器選擇。除了擁有很多的創(chuàng)新和**之外,F(xiàn)ISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗(yàn),并且仍在不斷的發(fā)展中,確定細(xì)小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測(cè)試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測(cè)量,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器完全滿足實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)要求。XAN® 系列儀器特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用且性價(jià)比高,因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出.


德國(guó)FISCHERSCOPE X-RAY XAN系列測(cè)厚儀



FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

界面友好的XAN型儀器十分適用于生產(chǎn)業(yè)務(wù)和研發(fā)領(lǐng)域中的材料分析測(cè)試。專門為黃金珠寶業(yè)設(shè)計(jì)的XAN型儀器,可用于快速、無(wú)損測(cè)量產(chǎn)品真?zhèn)?,并?zhǔn)確確定實(shí)際的金含量。對(duì)于黃金及貴金屬合金的詳盡分析快速而直接。


XAN 310/315 XAN 220:專門從事金合金的成本效益分析。只有一個(gè)固定孔徑和一個(gè)固定濾光片;因此特別適合貴金屬分析。Xan儀器有不同的檢測(cè)器,使其滿足客戶從很少的元素到更復(fù)雜的多元素分析的需求。

XAN 250:配備了硅漂移探測(cè)器后,XAN250型儀器能分析薄鍍層,復(fù)雜合金及粉末、液體及塵埃的成分,這也是它為什么廣受實(shí)驗(yàn)室、測(cè)試機(jī)構(gòu)及貴金屬冶煉廠、海關(guān)檢驗(yàn)等機(jī)構(gòu)歡迎的原因。儀器出色的重復(fù)精度,可以與灰吹法相媲美。

FISCHER X-ray熒光光譜儀


特性:

     ? 操作簡(jiǎn)單且性價(jià)比高。
     ? 自下而上進(jìn)行測(cè)量,從而快速、簡(jiǎn)便地定位樣品
     ? 廣泛適用:為各個(gè)行業(yè)的典型需求量身定制了多種型號(hào)
     ? 以非破壞性方式進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量與元素分析
     ? 帶有高性能 X 射線管和高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD)的機(jī)型,可對(duì)薄鍍層及微量成分進(jìn)行精確測(cè)量

應(yīng)用:

     ? 鍍層厚度測(cè)量
     ? 厚度僅為幾納米的貴金屬鍍層
     ? 時(shí)尚首飾:對(duì)代鎳鍍層等新工藝多鍍層系統(tǒng)進(jìn)行分析
     ? 抗磨損鍍層,如:對(duì)化學(xué)鎳鍍層的厚度及磷含量進(jìn)行測(cè)量
     ? 測(cè)試納米級(jí)基礎(chǔ)金屬化層(凸點(diǎn)下金屬化層,UBM) 

材料分析

     ? 測(cè)定黃金首飾等貴金屬、手表和硬幣的成分與純度
     ? 專業(yè)實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及科研院校中常規(guī)材料分析
     ? 依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則,檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)(例如重金屬)
     ? 功能性鍍層的成分,如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量


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