無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是精確材料成分分析,F(xiàn)ISCHER眾多系列的X-ray熒光光譜儀可以為任何應(yīng)用提供理想儀器選擇
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無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是精確材料成分分析,F(xiàn)ISCHER眾多系列的X-ray熒光光譜儀可以為任何應(yīng)用提供理想儀器選擇。除了擁有很多的創(chuàng)新和**之外,F(xiàn)ISCHER-SCOPE X-RAY產(chǎn)品線還具備近30年的經(jīng)驗(yàn),并且仍在不斷的發(fā)展中,確定細(xì)小結(jié)構(gòu)和大型工件上的單一或復(fù)合鍍層、RoHS要求的痕量分析、測(cè)試珠寶和黃金或在連續(xù)生產(chǎn)線上在線測(cè)量,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY儀器完全滿足實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)要求。XAN® 系列儀器特別適合測(cè)量和分析超薄鍍層,即使鍍層成分復(fù)雜或含量微小也都能準(zhǔn)確測(cè)量。該系列產(chǎn)品簡(jiǎn)單易用且性價(jià)比高,因此在同類產(chǎn)品中脫穎而出.
XAN 310/315 XAN 220:專門從事金合金的成本效益分析。只有一個(gè)固定孔徑和一個(gè)固定濾光片;因此特別適合貴金屬分析。Xan儀器有不同的檢測(cè)器,使其滿足客戶從很少的元素到更復(fù)雜的多元素分析的需求。
XAN 250:配備了硅漂移探測(cè)器后,XAN250型儀器能分析薄鍍層,復(fù)雜合金及粉末、液體及塵埃的成分,這也是它為什么廣受實(shí)驗(yàn)室、測(cè)試機(jī)構(gòu)及貴金屬冶煉廠、海關(guān)檢驗(yàn)等機(jī)構(gòu)歡迎的原因。儀器出色的重復(fù)精度,可以與灰吹法相媲美。
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