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FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500移動(dòng)材料分析和涂層厚度測量

XAN 500型X射線熒光儀器適用于非破壞性涂層厚度測量和材料分析。該儀器完全適用于質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)和過程控制的測量。

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完整型號(hào)：FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500移動(dòng)材料分析和涂層厚度測量

XAN500介紹：

手持式、臺(tái)式、在線： XAN 500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能Z多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測量。XAN 500型X射線熒光儀器適用于非破壞性涂層厚度測量和材料分析。該儀器完全適用于質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)和過程控制的測量。由于它體積小，即使在困難的幾何形狀上也可以測量。
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。
XAN500采用先進(jìn)的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的完全基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
使用XAN500型手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺(tái)式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500移動(dòng)材料分析和涂層厚度測量

特點(diǎn)：

手持式便攜X射線熒光儀器
為鍍層厚度測量和合金分析而優(yōu)化
3點(diǎn)支撐，保證每次測量時(shí)的位置準(zhǔn)確
帶有WinFTM軟件的平板電腦 (平板電腦可單獨(dú)購買)
藍(lán)牙接口
可選的測試箱

應(yīng)用：

在生產(chǎn)過程中，實(shí)時(shí)檢測鍍層厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）
可便捷且穩(wěn)定地測量大尺寸部件，如管道、外殼或機(jī)械零件。
將儀器放置到測量箱中，XAN500即成為全功能的臺(tái)式儀器，可精確地測量小尺寸零件，如螺母和螺栓。
還可整合到生產(chǎn)線的控制系統(tǒng)中，可以實(shí)現(xiàn)100%的質(zhì)量監(jiān)控

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

■ 無需移動(dòng)或切割測量對(duì)象即可進(jìn)行現(xiàn)場快速無損檢查

主要參數(shù)

測量元素范圍	S（16）～U（92）
X射線探測器	硅漂移檢測器（SDD）
X射線管	W目標(biāo)
主過濾器	1種固定
準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸	1種固定式/Φ2mm
測量儀器主體尺寸	210 x 75 x 230mm（寬x深x高）
測量箱尺寸	380 x 220 x 385mm（寬x深x高）
測量箱測量室尺寸	150 x 330mm
電池工作時(shí)間	約6小時(shí)

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