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日本奧林巴斯 Olympus 45MG超聲測厚儀

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。

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45MG超聲測厚儀:操作簡便、堅固耐用、性能可靠

45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款獨具特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。 45MG儀器在使用基本配置時,是一款易懂易學(xué)、操作簡便的測厚儀,操作人員經(jīng)過十分基本的培訓(xùn),就可完成十分常用的測厚應(yīng)用。不過,45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后,就會變成一款很高級的測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外,大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買。


測量中的45MG高級超聲波測厚儀

        ? 與所有Olympus雙晶探頭兼容,可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量
        ? *小值/*大值模式
        ? 兩個報警模式
        ? 差值模式
        ? 時基B掃描
        ? 縮減率
        ? 增益調(diào)整(標準、高、低)
        ? 密碼式儀器鎖定


可選功能:

只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途十分廣泛的測厚儀行列。
        ? 回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度,而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,在進行厚度測量時,無需去掉材料表面的漆層或涂層。
        ? 單晶:這個選項可對很多材料,如:金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷,進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
        ? 單晶高穿透:這個選項可對較厚或衰減性較高的材料,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
        ? 數(shù)據(jù)記錄器:45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描:用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數(shù),對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中*大限度地增強測量性能。這個有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、首個回波空白、范圍及延遲參數(shù) 


45MG測厚儀對塑料進行厚度測量
45MG測厚儀對金屬進行厚度測量
45MG超聲波測厚儀對陶瓷進行厚度測量


對塑料、金屬、復(fù)合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用,則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
??在使用頻率范圍為2.25?MHz到30?MHz的單晶探頭時,單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
??高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
??測量厚度、聲速或渡越時間。
??自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作 

45MG單晶及雙晶探頭


雙晶探頭,用于腐蝕測厚操作

所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。

探頭 工件編號 
頻率(MHz) 連接器 端部直徑mm(in.) 范圍(鋼)*mm(in.) 溫度范圍** °C (°F) 線纜 工件編號
D790 U8450002


5.0

平直

11.00 
(0.434)

1.00 to 500.00 
(0.040 to 20.000)


-20 to 500 
(-5 to 932)

密封 ˉ
D790-SM U8450009 平直 LCMD-316-5B? U8800353
D790-RL U8450007 90° LCLD-316-5G? U8800330
D790-SL U8450008 平直 LCLD-316-5H U8800331
D791 U8450010

5.0

90° 11.00 
(0.434)
1.00~500.00 
(0.040~20.000)
-20~500 
(-5~932)
密封 ˉ
D791-RM U8450011 5.0 90° 11.00 
(0.434)
1.00~500.00 
(0.040~20.000)
-20~400 
(-5~752)
LCMD-316-5C U8800345
D792 U8450012 10 平直 7.20 
(0.283)
0.50~25.00 
(0.020 to 1.000)
0~50 
(32~122)
密封 ˉ
D793 U8450013 90° 密封 ˉ
D794 U8450014 5.0 平直 7.20 
(0.283)
0.75~50.00 
(0.030~2.000)
0~50 
(32~122)
密封 ˉ
D797 U8450016 2.0 90° 22.90 
(0.900)
3.80~635.00 
(0.150~25.000)
-20~400 
(-5~752)
密封 ˉ
D797-SM U8450017 平直 LCMD-316-5D U8800355
D7226 U8454013 7.5 90° 8.90 
(0.350)
0.71~100.00 
(0.028~4.000)
-20~150 
(-5~300)
密封 ˉ
D798-LF U8450019
D798 U8450018 7.5 90° 7.20 
(0.283)
0.71~100.00 
(0.028~4.000)
-20~150 
(-5~300)
密封 ˉ
D798-SM U8450020 平直 LCMD-316-5J U8800357
D799 U8450021 5.0 90° 11.00 
(0.434)
1.00~500.00 
(0.040~20.000)
-20~150 
(-5~300)
密封 ˉ
MTD705 U8620225 5.0 90° 5.10 
(0.200)
1.00~19.00 
(0.040~0.750)
0~50 
(32~122)
LCPD-78-5 U8800332
D7906-SM?? U8450005 5.0 平直 11.00 
(0.434)
1.00~50.00 
(0.040~2.000)
0~50 
(32~122)
LCMD-316-5L U8800358
D7906-RM?? U8450025 90° LCMD-316-5N U8800647
D7908 U8450006 7.5 90° 7.20 
(0.283)
1.00~37.00 
(0.040~1.500)
0~50 
(32~122)
密封 ˉ
*厚度范圍取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。


用于精確厚度測量的單晶探頭

頻率 晶片直徑
探頭

工件編號
mm in.
0.5 25 1.00 M101-SB* U8400017
1.0 25 1.00 M102-SB* U8400018
1.0 13 0.5 M103-SB* U8400020
2.25 13 0.5 M106-RM U8400023
M106-SM U8400025
2.25 13 0.5 M1036 U8400020

5.0

13 0.5 M109-RM U8400027
M109-SM U8400028
5.0 6 0.25 M110-RM U8400030
M110-SM 
M110H-RM**
U8400031 
U8400029
10 6 0.25 M112-RM 
M112-SM
U8400034 
U8400035 
U8400033
M112H-RM** U8400033
10 3 0.125 M1016 U8400015
20 3 0.125 M116-RM U8400038
M116-SM U8400039
20 3 0.125 M116H-RM** U8400037

*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。 


測量 雙晶探頭測量模式 從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔。
自動回波到回波(可選) 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。
穿透涂層測量 (可選) 利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭)
單晶探頭測量模式(可選) 模式1:激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔。 
模式2:延遲塊回波與第一個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 
模式3:在激勵脈沖之后,位于第一個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。
厚度范圍 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量最全的范圍需要使用單晶選項)
材料聲速范圍 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)
分辨率(可選擇) 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 
標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 
單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸)
探頭頻率范圍 標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
一般規(guī)格 操作溫度范圍 -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F)
鍵盤 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋
機殼 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標準。
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm
重量 430.9克
電源 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng)
電池工作時間 3節(jié)AA堿性電池:20到21小時 
3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時 
3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時
標準 設(shè)計符合EN15317標準
顯示 彩色透反QVGA顯示 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米
檢波 全波、RF波、正半波、負半波(波形選項)
輸入/輸出 USB 2.0從接口
存儲卡 最大容量:2 GB可插拔microSD存儲卡
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選) 數(shù)據(jù)記錄器 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。
容量 475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形
文件名稱和ID編碼 32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼
文件結(jié)構(gòu) 6個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu)
報告 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/最大值

標準配置

  • 45MG數(shù)字式超聲測厚儀
  • AA堿性電池
  • 2階試塊和耦合劑
  • USB線纜
  • 用戶手冊,存于CD盤上
  • 測量功能:最小值/最大值模式、兩個報警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能

軟件選項

  • 45MG-SE (U8147022):單晶選項,使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭
  • 45MG-HP (U8147023):單晶高穿透選項,使用頻率范圍為0.5 MHz~30 MHz的單晶探頭
  • 45MG-EETC (U8147021):回波到回波和穿透涂層
  • 45MG-WF (U8147019):波形選項
  • 45MG-DL (U8147020):內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器,包含GageView接口程序

選購附件

  • MICROSSD-ADP-2GB (U8779307): 2 GB外置microSD存儲卡
  • 45MG-RPC (U8779676): 帶支架的橡膠保護套
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