45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。
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45MG儀器是一款帶有各種標準測量功能和軟件選項的高級超聲測厚儀。這款獨具特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測厚應(yīng)用。 45MG儀器在使用基本配置時,是一款易懂易學(xué)、操作簡便的測厚儀,操作人員經(jīng)過十分基本的培訓(xùn),就可完成十分常用的測厚應(yīng)用。不過,45MG儀器添加了可選軟件選項和探頭后,就會變成一款很高級的測厚儀,可以進行典型的初級儀器不能完成的應(yīng)用。此外,大多數(shù)選項可以在購買儀器時分別購買,或在日后需要時購買。
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? 與所有Olympus雙晶探頭兼容,可對內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進行測量 |
只需幾次按鍵,即可完成從簡單腐蝕測厚儀到多功能精確測厚儀的華麗變身。45MG測厚儀提供需密碼激活的5個軟件選項,從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途十分廣泛的測厚儀行列。
? 回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度,而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,在進行厚度測量時,無需去掉材料表面的漆層或涂層。
? 單晶:這個選項可對很多材料,如:金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷,進行非常精確的厚度測量。這個選項可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
? 單晶高穿透:這個選項可對較厚或衰減性較高的材料,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進行厚度測量。可與范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個選項包含單晶選項。
? 數(shù)據(jù)記錄器:45MG測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個選項包含基于Windows的GageView接口程序。帶有波形調(diào)整功能的實時A掃描:用戶使用這個可選實時A掃描模式,可以在測厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測量讀數(shù),對增益和空白設(shè)置進行手動調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中*大限度地增強測量性能。這個有益的選項包含手動增益調(diào)整、擴展空白、首個回波空白、范圍及延遲參數(shù)
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用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和連接器類型的單晶探頭。如果用戶要將45MG儀器與單晶探頭配合使用,則必須購買單晶軟件或高穿透軟件選項。
??在使用頻率范圍為2.25?MHz到30?MHz的單晶探頭時,單晶軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。
??高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
??測量厚度、聲速或渡越時間。
??自動調(diào)用默認設(shè)置和自定義設(shè)置用于當前應(yīng)用的功能簡化了厚度測量操作
所有標準雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每個特定探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。
探頭 |
工件編號 |
頻率(MHz) | 連接器 | 端部直徑mm(in.) | 范圍(鋼)*mm(in.) | 溫度范圍** °C (°F) | 線纜 | 工件編號 |
D790 | U8450002 |
|
平直 |
11.00 |
1.00 to 500.00 |
|
密封 | ˉ |
D790-SM | U8450009 | 平直 | LCMD-316-5B? | U8800353 | ||||
D790-RL | U8450007 | 90° | LCLD-316-5G? | U8800330 | ||||
D790-SL | U8450008 | 平直 | LCLD-316-5H | U8800331 | ||||
D791 | U8450010 |
5.0 |
90° |
11.00 (0.434) |
1.00~500.00 (0.040~20.000) |
-20~500 (-5~932) |
密封 | ˉ |
D791-RM | U8450011 | 5.0 | 90° |
11.00 (0.434) |
1.00~500.00 (0.040~20.000) |
-20~400 (-5~752) |
LCMD-316-5C | U8800345 |
D792 | U8450012 | 10 | 平直 |
7.20 (0.283) |
0.50~25.00 (0.020 to 1.000) |
0~50 (32~122) |
密封 | ˉ |
D793 | U8450013 | 90° | 密封 | ˉ | ||||
D794 | U8450014 | 5.0 | 平直 |
7.20 (0.283) |
0.75~50.00 (0.030~2.000) |
0~50 (32~122) |
密封 | ˉ |
D797 | U8450016 | 2.0 | 90° |
22.90 (0.900) |
3.80~635.00 (0.150~25.000) |
-20~400 (-5~752) |
密封 | ˉ |
D797-SM | U8450017 | 平直 | LCMD-316-5D | U8800355 | ||||
D7226 | U8454013 | 7.5 | 90° |
8.90 (0.350) |
0.71~100.00 (0.028~4.000) |
-20~150 (-5~300) |
密封 | ˉ |
D798-LF | U8450019 | |||||||
D798 | U8450018 | 7.5 | 90° |
7.20 (0.283) |
0.71~100.00 (0.028~4.000) |
-20~150 (-5~300) |
密封 | ˉ |
D798-SM | U8450020 | 平直 | LCMD-316-5J | U8800357 | ||||
D799 | U8450021 | 5.0 | 90° |
11.00 (0.434) |
1.00~500.00 (0.040~20.000) |
-20~150 (-5~300) |
密封 | ˉ |
MTD705 | U8620225 | 5.0 | 90° |
5.10 (0.200) |
1.00~19.00 (0.040~0.750) |
0~50 (32~122) |
LCPD-78-5 | U8800332 |
D7906-SM?? | U8450005 | 5.0 | 平直 |
11.00 (0.434) |
1.00~50.00 (0.040~2.000) |
0~50 (32~122) |
LCMD-316-5L | U8800358 |
D7906-RM?? | U8450025 | 90° | LCMD-316-5N | U8800647 | ||||
D7908 | U8450006 | 7.5 | 90° |
7.20 (0.283) |
1.00~37.00 (0.040~1.500) |
0~50 (32~122) |
密封 | ˉ |
頻率 | 晶片直徑 |
探頭 |
工件編號 |
|
mm | in. | |||
0.5 | 25 | 1.00 | M101-SB* | U8400017 |
1.0 | 25 | 1.00 | M102-SB* | U8400018 |
1.0 | 13 | 0.5 | M103-SB* | U8400020 |
2.25 | 13 | 0.5 | M106-RM | U8400023 |
M106-SM | U8400025 | |||
2.25 | 13 | 0.5 | M1036 | U8400020 |
5.0 |
13 | 0.5 | M109-RM | U8400027 |
M109-SM | U8400028 | |||
5.0 | 6 | 0.25 | M110-RM | U8400030 |
M110-SM M110H-RM** |
U8400031 U8400029 |
|||
10 | 6 | 0.25 |
M112-RM M112-SM |
U8400034 U8400035 U8400033 |
M112H-RM** | U8400033 | |||
10 | 3 | 0.125 | M1016 | U8400015 |
20 | 3 | 0.125 | M116-RM | U8400038 |
M116-SM | U8400039 | |||
20 | 3 | 0.125 | M116H-RM** | U8400037 |
*這些探頭只能與高穿透軟件選項一起使用。
測量 | 雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延遲到第一個回波之間的時間間隔。 |
---|---|---|
自動回波到回波(可選) | 在兩個連續(xù)底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。 | |
穿透涂層測量 (可選) | 利用單個底面回波,測量金屬的實際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭) | |
單晶探頭測量模式(可選) |
模式1:激勵脈沖與第一個底面回波之間的時間間隔。 模式2:延遲塊回波與第一個底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊或水浸式探頭) 模式3:在激勵脈沖之后,位于第一個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲塊探頭或水浸式探頭)。 |
|
厚度范圍 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測量最全的范圍需要使用單晶選項) | |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) | |
分辨率(可選擇) |
低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 標準分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 單晶選項:0.001毫米(0.0001英寸) |
|
探頭頻率范圍 | 標準:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) | |
一般規(guī)格 | 操作溫度范圍 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋 | |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼,機殼上的接口密封。設(shè)計符合IP67標準。 | |
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm | |
重量 | 430.9克 | |
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng) | |
電池工作時間 |
3節(jié)AA堿性電池:20到21小時 3節(jié)AA鎳氫電池:22到23小時 3節(jié)AA鋰離子電池:35到36小時 |
|
標準 | 設(shè)計符合EN15317標準 | |
顯示 | 彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波(波形選項) | |
輸入/輸出 | USB | 2.0從接口 |
存儲卡 | 最大容量:2 GB可插拔microSD存儲卡 | |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選) | 數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或microSD卡識別、存儲、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數(shù),或20000個帶厚度值的波形 | |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼 | |
文件結(jié)構(gòu) | 6個標準的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) | |
報告 | 機載報告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計和最小值/最大值 |
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