盤形測針用于檢測星形測針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。半球形測針可用于檢測粗糙表面和深位特征.
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盤形測針用于檢測星形測針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。一系列盤形測針可提供“半球形滾子”以實現(xiàn)凹槽高度測量。陶瓷測針具有重量輕、耐磨和無磁性的優(yōu)點。銀質(zhì)鋼測針經(jīng)過熱處理和研磨加工,精度可滿足極高公差要求。半球形測針可用于檢測粗糙表面和深位特征,例如內(nèi)孔。陶瓷測針具有重量輕、耐磨和無磁性的優(yōu)點。
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