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微型光澤儀器系列測量儀器是用于測量油漆涂料，塑料，陶瓷和金屬表面的光澤。微型三角度μ附帶測量鐵基（Fe)和非鐵基(NFe)上的油漆涂層厚度。光線以一定的角度直射到樣品的表面，通過光電感應(yīng)計（反射計）測量反射光。根據(jù)被測物體光澤的水平。反射計以不同角度直射光照射到產(chǎn)品表面。儀器裝備20o，60o或85o標(biāo)準(zhǔn)測量角。在微型三角度光澤儀中同時含有這三個角度。本操作手冊中測量角度的選擇功能描述是針對三角度光澤儀的。此外測量的每個光澤數(shù)據(jù)可以回看，保存，同時可對多達(dá)999個數(shù)據(jù)的測量系列進(jìn)行統(tǒng)計評估。使用操作按鈕和滾輪對系統(tǒng)進(jìn)行控制，系統(tǒng)操作由屏幕提示信息（自動診斷和錯誤提示）提供支持。測量儀器符合DIN 67530, ISO 2813, ASTM D 523, JIS Z8741和BS3900 Part D5等標(biāo)準(zhǔn)。

涂料，油漆，塑料以及類似材料光澤度測量： 根據(jù)以下不同領(lǐng)域的應(yīng)用使用不同的測量角度：     ?中光澤表面使用60o測量角，測量范圍在10到70GU（光澤單位）范圍內(nèi)。     ?對于用60o測量度數(shù)超過70GU的高反射表面，需使用20o測量角測量。     ?對于用60o測量度數(shù)超過10GU的粗糙的表面，需使用85o測量角測量。

陽極電鍍鋁和其它金屬表面光澤測量： 儀器具有更大的測量范圍用于測量非常高光澤的樣品。非金屬材料表面的反射率會隨入射角加大而提高，金屬的反射特性并不于此相似。因為有二次反射，即一部分光被涂層表面反射，另一部分被底部的金屬反射。為了得到這些表面的全部反射特性，建議在他們上面測量全部的角度。除了可以查看以黑色玻璃標(biāo)準(zhǔn)板為參考的（GU 光澤單位），還能以金屬領(lǐng)域內(nèi)的反射光的數(shù)量為參考的 % （反射率）。

膜厚測量：

膜厚探頭的功能是根據(jù)電磁感應(yīng)方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。因此測量結(jié)果在高磁場或電磁波的環(huán)境下產(chǎn)生偏差。測量的膜厚受到磁性（Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。測量結(jié)果還會受到諸如復(fù)合物或底材熱處理的影響發(fā)生偏差。應(yīng)此推薦在沒有涂層的產(chǎn)品上進(jìn)行零點校準(zhǔn)后再進(jìn)行樣品測量。對于粗糙的表面也會影響涂層厚度的測量。為了降低隨機(jī)誤差，建議使用多點測量法。如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測量涂層膜厚，請注意以下幾點：
● 用于NFe設(shè)置，基材厚度至少50μm。（例如非磁性涂層）
● 用于Fe設(shè)置，非磁性涂層厚度已包含在測量結(jié)果中。

一般性技術(shù)指標(biāo)

操作溫度 ........................: +15C至+40°C (60° F至104°F)
儲存溫度 ........................-10C 至+60°C (-14°F至140°F)
相對濕度 ........................小于85%，不結(jié)露
內(nèi)存 ........................999個含有日期和時間的測量數(shù)據(jù)，多達(dá)50個內(nèi)存區(qū)域。
差值測量 ........................可存50個參考標(biāo)準(zhǔn)
接口 ........................USB
評估軟件........................Easy-link, (隨機(jī)配有)
電源. .......................1節(jié)堿性電池(AA/LR6)或鎳錳可充電電池
電池 ........................1.5VDC,最大.0.1A
可充電電池 ........................1.2VDC,最大.0.1A
外接電源 ........................USB, 5VDC,最大. 0.1A
尺寸(寬X長X高) ........................48X 155 X 73mm
測量角度........................20° / 60° / 85°
測量區(qū)域(mm) ........................10X10/ 9X15/ 5X38
測量范圍........................ 0-2000GU / 0-1000GU/ 0-160GU
色度響應(yīng)........................ 在CIE-C光源下，CIE光度函數(shù)y (2° )
重復(fù)性....................... 0.2GU（0-100GU）/0.2%（100-2000GU）/0.1GU（S型0-10GU）
重現(xiàn)性.......................0.5GU（0-100GU）/0.5%（100-2000GU）/0.2GU（S型0-10GU）
膜厚度測量：
基材 .......................Fe: 磁性， 例如；鐵         NFe: 非磁性，例如：鋁
探頭 .......................單點
測量范圍 ....................... 0…500μm (0...20mil)
精度....................... ±（1.5μm+2%*) *測量值
基材最小厚度....................... Fe: 0.02mm (8mil) NFe: 0.05mm (2mil)