鐳射干涉儀可以在你的測量中,只要一次資料擷取,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學(xué)厚度
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Verifire? MST鐳射干涉儀提供了一個嶄新的測量方式和能力,傳統(tǒng)的鐳射干涉儀應(yīng)用是測量兩個面的波前變化,也就是說測量一個 由兩個面所形成的腔。但是,如果所測量的是一個沒有經(jīng)過鍍膜的平行平板,則就會產(chǎn)生兩個疊加的干涉條紋(三個面的腔所形成),這樣就會干擾標準的位相干涉測量分析。現(xiàn)在,ZYGO的Verifire? MST鐳射干涉儀解決了這一個問題,通過波長調(diào)制技術(shù)和ZYGO新的傅立葉轉(zhuǎn)換方法,可以進行三個甚至四個平行面的測量,不僅可以顯示所有的面,并且可以排除其他的面而單獨顯示你所需要的面。
三平面干涉測量
鐳射干涉儀可以在你的測量中,只要一次資料擷取,就可以得到平行平板前表面和后表面的平面度,同時還能得到平行平板的光學(xué)厚度:
? 前表面形貌圖
? 光學(xué)厚度變化
? 物理厚度變化和后表面形變
四表面干涉測量
這一技術(shù)能夠通過兩次資料擷取得到下列結(jié)果:
? 前表面和后表面的形貌圖
? 物理厚度變化
? 光學(xué)厚度變化
? 折射率變化
- 非線性材料均勻性
- 線性材料均勻性
多表面樣品測量快速、簡單和品質(zhì)提升,同時測量表面形變和光學(xué)厚度變化,平行平板兩側(cè)測量就可以得到其均勻性:
? 不需要涂油就可以進行安全、快速測量
? 兩次測量不需要進行調(diào)整
? 新型的線性材料均勻性測量,快速測量,只需要幾分鐘而不是幾個小時
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