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??怂箍等鴺颂綔y系統(tǒng)測頭/測座/附件

提供Hexagon-TESA、Leitz 和Renishaw完善的測量機用測頭、測座、測頭更換架及附件

市場價:

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工作時間:09:00-17:45



三坐標探測系統(tǒng)介紹:

提供Hexagon-TESA、Leitz 和Renishaw完善的測量機用測頭、測座、測頭更換架及附件,融合探測系統(tǒng)領(lǐng)域前沿科技,可實現(xiàn)高精度觸發(fā)式、掃描式、非接觸式測量,充分展示了坐標測量探測技術(shù)的新發(fā)展。高度創(chuàng)新的光機電設(shè)計,使得測頭系統(tǒng)能夠探測到X,Y和Z方向納米級的位移量,并保持很低的重復(fù)性誤差和3D形狀誤差。經(jīng)過專業(yè)嚴謹設(shè)計和制造的全系列標準配置,能夠完成各種快速而精確的測量。

主要特點:

        ?    技術(shù)*先
        ?    操作精確可靠
        ?    應(yīng)用靈活性強,并具備杰出的用戶效能
        ?    全面兼容各種測量機產(chǎn)品
        ?    快速有效的互換特性
        ?    根據(jù)生產(chǎn)需要,利用擴展模塊優(yōu)化測量系統(tǒng)
        ?    穩(wěn)定的結(jié)構(gòu),高承載能力
        ?    適應(yīng)工業(yè)環(huán)境的優(yōu)異耐久性


HH-T手動探測系統(tǒng)
HH-Mi手動分度探測系統(tǒng).
HH-A-H2.5自動探測系統(tǒng)
HH-A / HH-AS8自動探測系統(tǒng)
HH-T手動探測系統(tǒng)


關(guān)節(jié)式測座,可手動轉(zhuǎn)動到任何角度,內(nèi)置觸發(fā)測頭,觸測力可調(diào),是小型測量機的理想選擇。

HH-Mi手動分度探測系統(tǒng)

可重復(fù)分度并整合高精度觸發(fā)測頭??梢栽趦蓚€方向上現(xiàn)15° 分度,而不需要而新校準。

HH-A-H2.5自動探測系統(tǒng)


具有超長攜帶能力,大可攜帶750mm加長桿,支持觸發(fā)、掃描及激光測頭。2.5度的精度分度。

HH-A / HH-AS8


高性能、高速、高可靠性自動測座,提供了5°和7.5°兩種分度方式。AS8可以安裝在Z軸內(nèi)部。


HP-S-X1掃描探測系統(tǒng)
HP-S-X3掃描探測系統(tǒng)
HP-S-X5掃描探測系統(tǒng)

HP-S-X1掃描探測系統(tǒng)
完善的系統(tǒng)配備,為通用測
量任務(wù)提供多種選擇。包括
手動、自動測座、模塊化測
頭、更換架、探針、加長桿等。




HP-S-X3掃描探測系統(tǒng)
緊湊、高性價比、高精確
度的三維固定式掃描測頭,
可配置長達360 mm的加
長桿和探針組。



HP-S-X5掃描探測系統(tǒng)
高承載、全三維、
固定式掃
描測頭,即使在攜帶超長加
長桿的情況下也可保證達到
很快的速度和很高的精度。



LSP-S2掃描探測系統(tǒng)
HP-C-VE光學(xué)測頭
HP-L-10.6激光掃描測頭

LSP-S2掃描探測系統(tǒng)

LSP-S2始終提供高等級
的精度,探針加長可達到
800mm,是高精度完成深

,孔類特征的測量。






HP-C-VE光學(xué)測頭

HP-C-VE能夠安裝在測量
機上,實現(xiàn)了大尺寸部件上
面微小特征的放大測量。




HP-L-10.6激光掃描測頭
功能完善的交鑰匙方案,通
過快速點云采集,實現(xiàn)了與
CAD比較測量、
面檢測以及逆向工程等任務(wù)。



Precitec LR高精光學(xué)測頭
HP-L -20.8 激光掃描測頭

Precitec LR高精光學(xué)測頭
可與HP-S-S2配合使用,能
夠適應(yīng)任何類型的表面測量
任務(wù),光圈在90°+40°范圍
方向可調(diào)。



HP-L -20.8 激光掃描測頭
專用于關(guān)節(jié)臂測量機的掃描
測頭。自動實現(xiàn)光強的調(diào)整,
為復(fù)雜形狀和各種材料的掃
描提供了-流的方案。









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